|
|
Studium beta fáze v Al-Mg-Si slitinách pomocí nekonvenčních metod elektronové mikroskopie
Ligas, Aleš ; Julišová, Martina (oponent) ; Mikmeková, Šárka (vedoucí práce)
Hliníkové Al-Mg-Si slitiny nachází hlavní uplatnění především v automobilovém a stavebním průmyslu. Hexagonální ’ fáze je jednou z fází objevených v tomto typu slitin. Oproti klasické čtvercové -fází se vyznačuje rozdílnou krystalovou orientací vůči matrici a tvarem. Tradiční metodou pro jejich zobrazování je klasická rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), navzdory tomu, že v mnoha případech neposkytuje dostatečné informace. Je to rychlé a efektivní, avšak není dostatečnou v případě tenkých nebo poškozených precipitátů v důsledku připravného metalografického procesu. Pozorovat a jednoznačně identifikovat tyto precipitáty by mohla pomoci rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie, která díky fyzikálním principům nabízí v porovnání se SEM řadu nezanedbatelných výhod jako jsou zmenšení interakčního objemu, zlepšení materiálového kontrastu i vyšší kontrast krystalografický.
|
|
|
Studium kovových materiálů pomocí nízkonapěťové elektronové mikroskopie
Ligas, Aleš ; Jánský, Pavel (oponent) ; Mikmeková, Šárka (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá demonstrací výhod metody mikroskopie pomalými elektrony v oblasti materiálových věd. Rastrovací nízkoenergiov elektronová mikroskopie je mimořádně užitečná pro studium celé řady materiálů, jako jsou oceli, slitiny, keramika a tenké vrstvy. Experimentální část bakalářské práce byla provedena na rastrovacím elektronovém mikroskopu TESCAN VEGA TS 5130 vybaveném režimem katodové čočky, který se nachází na Ústavu přístrojové techniky AVČR, v.v.i..
|
|
|
Zobrazování deformace kovových materiálů pomalými elektrony
Piňos, Jakub ; Kolíbal, Miroslav (oponent) ; Kasl, Josef (oponent) ; Frank, Luděk (vedoucí práce)
Rastrovací elektronová mikroskopie patří k běžným technikám analýzy moderních strojírenských materiálů. Rozvoj různých zobrazovacích technik umožňuje volit vhodný způsob pozorování pro získání nových informací o vzorku. Tato práce se zabývá přímým zobrazením deformace v kovových vzorcích pomocí rastrovací mikroskopie pomalými elektrony v průběhu in-situ tahové zkoušky. Experimenty byly provedeny na vzorcích z čisté mědi. V průběhu zkoušek byly získány snímky umožňující sledovat vývoj vlivu deformace na mikrostrukturu materiálu od jeho prvních projevů ve struktuře při intenzitách plastické deformace 3-4% až po extrémní plastickou deformaci na čele trhliny.
|
|
|
Real time observation of strain in the SEM sample
Piňos, Jakub ; Frank, Luděk
The SEM with various detector arrangements and analytical attachments represents an\nirreplaceable tool in material research. One of the techniques available in most contemporary\nmicroscopes is the scanning low energy electron microscopy (SLEEM) with biased specimen, marketed as the beam deceleration mode, gentle beam and others. The SLEEM allows\ncontrolling the information depth of the backscatter electron (BSE) imaging within a wide\nrange by altering the landing energy of electrons.
|
|
|
Very low energy STEM/TOF system
Daniel, Benjamin ; Radlička, Tomáš ; Piňos, Jakub ; Frank, Luděk ; Müllerová, Ilona
Scanning low energy electron microscopes (SLEEMs) have been built at ISI for over 20 years, either by modification of commercially available SEMs with a cathode lens or completely self-built in case of a dedicated ultra-high vacuum scanning low energy electron microscope (UHV SLEEM). Recently, the range of detection methods has been extended\nby a detector for electrons transmitted through ultrathin films and 2D crystals like graphene. For a better understanding of interaction between low energy electrons and solids in general, and the image contrast mechanism in particular, it was considered useful to measure the energy of transmitted electrons. This allows a better comparison with simulations, which suffer from increasing complexity due to a stronger interaction of electrons with the density of states at low energies.
|
|
|
Studium beta fáze v Al-Mg-Si slitinách pomocí nekonvenčních metod elektronové mikroskopie
Ligas, Aleš ; Julišová, Martina (oponent) ; Mikmeková, Šárka (vedoucí práce)
Hliníkové Al-Mg-Si slitiny nachází hlavní uplatnění především v automobilovém a stavebním průmyslu. Hexagonální ’ fáze je jednou z fází objevených v tomto typu slitin. Oproti klasické čtvercové -fází se vyznačuje rozdílnou krystalovou orientací vůči matrici a tvarem. Tradiční metodou pro jejich zobrazování je klasická rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), navzdory tomu, že v mnoha případech neposkytuje dostatečné informace. Je to rychlé a efektivní, avšak není dostatečnou v případě tenkých nebo poškozených precipitátů v důsledku připravného metalografického procesu. Pozorovat a jednoznačně identifikovat tyto precipitáty by mohla pomoci rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie, která díky fyzikálním principům nabízí v porovnání se SEM řadu nezanedbatelných výhod jako jsou zmenšení interakčního objemu, zlepšení materiálového kontrastu i vyšší kontrast krystalografický.
|
|
|
Studium kovových materiálů pomocí nízkonapěťové elektronové mikroskopie
Ligas, Aleš ; Jánský, Pavel (oponent) ; Mikmeková, Šárka (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá demonstrací výhod metody mikroskopie pomalými elektrony v oblasti materiálových věd. Rastrovací nízkoenergiov elektronová mikroskopie je mimořádně užitečná pro studium celé řady materiálů, jako jsou oceli, slitiny, keramika a tenké vrstvy. Experimentální část bakalářské práce byla provedena na rastrovacím elektronovém mikroskopu TESCAN VEGA TS 5130 vybaveném režimem katodové čočky, který se nachází na Ústavu přístrojové techniky AVČR, v.v.i..
|
|
|
Characterization of .beta.-phase in Al-Mg-Si alloys by SLEEM and STLEEM techniques
Ligas, A. ; Hida, S. ; Matsuda, K. ; Mikmeková, Šárka
Knowledge of the distribution and morphology of the Mg2Si precipitates (i.e. .beta.-phase) in Al-Mg-Si alloys are very important for many practical reasons and the scanning electron microscopy (SEM) technique is widely used for their visualization. Unfortunately, in the standard SEM images these precipitates are barely visible and finding them can be very difficult. Using the cathode lens (CL) mode in the SEM (so called SLEEM) these difficulties have been overcome and a very high contrast between the hexagonal-shaped .beta.-phase and the matrix has been obtained. Moreover, it has been found that the SLEEM images offer the possibility to distinguish between the hexagonal-shaped and the conventional .beta.-phase based on their different brightness, not only on their shape, which can be in some cases difficult or even impossible. Mg2Si precipitates have been also characterized by means of the scanning transmission low energy electron microscopy (STLEEM) method based on the using of a STEM detector in the SEM operated in the CL mode.
|
|
|
Microstructural characterization of metallic materials using advanced SEM techniques
Piňos, Jakub ; Konvalina, Ivo ; Kasl, J. ; Jandová, D. ; Mikmeková, Šárka
The development of advanced materials is inseparably connected with detailed knowledge of the relationship between microstructure and mechanical properties. Traditional high-voltage scanning electron microscopy (SEM) is one of the most commonly used techniques for microstructure analysis, though it may be insufficient particularly for the characterization of advanced materials exhibiting a complex microstructure. The benefits of using slow electrons have been described in several articles. Experiments have been performed with a XHR SEM Magellan 400L (FEI Company) equipped with two detectors for secondary electrons (SE), an Everhart Thornley detector and an in-lens TLD detector, and solid-state BSE detector (CBS) located below the pole piece. This microscope can also be operated in the beam deceleration (BD) mode. The field of the BD not only decelerates the primary electrons, but also accelerates the emitted (signal) electrons towards the detector. Furthermore, high-angle backscattered electrons (BSE) are also collimated towards the optical axis and are detected. These electrons carry, first and foremost, crystal orientation contrast. SE and low-angle BSE can be detected by the TLD detector located inside the objective lens. Angle-resolved detection of BSE is performed using a CBS detector divided into four concentric segments.
|
|
|
Influence of annealing to stress in CNx:(H) films observed by SLEEM
Mikmeková, Eliška ; Mikmeková, Šárka ; Müllerová, Ilona ; Sobota, Jaroslav
The effect of high residual stress on the quality of thin sputtered carbon nitride films has been studied by Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM). Basically, two different types of stress can be identified in thin films: compressive stress and tensile stress. Compressive stress leads to wrinkling and film delamination and tensile stress can cause the fracturing of thin films. Experiments were made in the Tescan TS 5130 MM equipped with the Cathode Lens system (CL), which enable us to observe samples at arbitrary landing energies of the illuminating electrons. Operating of a SEM at low energies offers several advantages: an increase of materials contrast via low energy, high ratio SE, BSE signal and noise, smaller interaction volume and elimination of charging effects. The effect of annealing in vacuum to residual stress (calculated from Stoney’s equation) was measured. The porous character of films was observed by thermal desorption spectroscopy (TDS).
|
host ::
RSS.